검증 테스트 정보

IEC 61511 표준은 기능 안전 라이프 사이클을 다음 작업에 사용할 것을 권장합니다. 

1. 상황 분석 및 안전 요구사항 문서화
2. 적합한 소프트웨어 및 하드웨어와 설계 방법론을 사용하여, 요구사항을 문서화된 문서 시스템 설계로 변환
3. 필수 무결성 및 신뢰성 사양에 대해 시스템 평가 - 필요에 따라 수정
4. 수락된 절차에 따라 시스템 작동 및 유지보수 - 라이프사이클 전체에서 성능이 유지보수되도록 결과 문서화

• 안전 감지 안 됨(SU): 명령이 없음에도 구성요소가 거짓(때 아닌)으로 활성화  
• 안전 감지됨(SD): 장치에서 울린 중요하지 않은 알람 
• 위험 감지됨(DD): 수정되지 않으면 안전 기능이 실행되지 못하는 중요 진단 알람 
• 위험 감지 안 됨(DU): 장치 진단으로 식별되지 않은 매우 위험한 오류 다음 테스트 또는 안전 기능 활성화까지 숨김 상태로 유지됩니다. 고진단 범위의 장치를 선택하면 DU가 최소화되고, 안전성이 향상됩니다. 

IEC 61508은 제품의 시스템 역량, 아키텍처 제약조건 및 고장확률을 평가해야 함을 나타냅니다.  Exida 와 같은 독립적인 제3의 테스트 업체는 목표 SIL 수준에 필요한 세 부분에 모두 적용되는 인증을 제공할 수 있습니다.

• 시스템 역량은 장치 제조업체의 품질 관리 시스템이 시스템 설계 오류를 방지하기 위한 절차를 따르도록 요구합니다.
• 고장 모드 효과 및 진단 분석(FMEDA)은 아키텍처 제약조건을 평가하기 위해 수행됩니다. 
• 임의적 평균 고장확률을 계산하여 고장확률을 평가합니다. 

작동시 고장확률(PFD) 

필요할 때 안전 기능을 수행하지 못하는 장치의 위험. IEC 61511은 검증 테스트 간격은 평균 PFD(PFD_avg)를 기준으로 계산해야 함을 명시합니다. 각각의 고장 비율, 진단 적용 범위 및 안전 기능 요인이 PFD_avg의 계산에 사용됩니다. 각 계기 값을 낮추면 전체 신뢰성을 향상시킬 수 있습니다. 

위험 감소 요인(RRF)  

위험 감소 요인(RRF)은 필수 고장확률의 역입니다. 예를 들어, 필수 고장확률 값 0.001은 RRF 1000입니다. 이는 1000년마다 위험 고장 한 번을 의미합니다.

포괄적 검증 테스트는 장치의 세 가지 기능 요소인 출력 회로, 측정 전자장치 및 센싱 요소를 모두 확인합니다. 부분 검증 테스트는 세 요소 중 하나 혹은 두 가지 기능 요소를 확인합니다. 부분 검증 테스트는 장치에 내부 문제가 없음을 확인하는 데 수행되고, 장치의 PFD를 다시 원래 레벨의 백분율로 가져와서 지정된 SIL 요구사항을 이행하도록 합니다.

세 가지 기능 요소를 모두 다루는 부분 검증 테스트의 조합이 포괄적 검증 테스트로 간주됩니다.

측정 데이터 외에도, 최신 레벨 장치는 진단 기능에 대한 액세스를 제공하고 원격 검증 테스트를 지원합니다. 고장이 실시간으로 식별될 수 있습니다. 진단 기능(DC)은 위험한 고장을 감지하는 장치의 기능을 설명합니다. 검증 테스트 기능은 장치의 진단으로는 식별되지 않지만 검증 테스트에서 감지할 수 있는, 감지되지 않은 위험 고장의 수를 측정한 것입니다. 이는 검증 테스트 기능(PTC) 요소로 정의되고, 가능한 높은 백분율이어야 합니다(이상적으로는 전체 테스트의 경우 100%).